TESCAN VEGA 第四代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence? 電鏡操控軟件系統(tǒng)，將掃描形貌圖像與元素實(shí)時(shí)分析集成于同一個(gè)掃描窗口中。這種組合大大簡(jiǎn)化了樣品表面形貌的采集及所含元素的數(shù)據(jù)分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成為質(zhì)量控制、故障分析和研究實(shí)驗(yàn)室中常規(guī)材料等檢測(cè)提供更高效的分析的解決方案。

突出特點(diǎn)
完全集成的 TESCAN Essence? EDS 分析平臺(tái)，在 Essence? 電鏡操控軟件的單一窗口中即可實(shí)現(xiàn) SEM 成像和元素成分分析。
TESCAN 采用獨(dú)特的無機(jī)械光闌設(shè)計(jì)，采用實(shí)時(shí)電子束追蹤（In Flight Beam Tracing?）的專利技術(shù)，可幫助用戶快速獲得電鏡的最佳成像及分析條件。
獨(dú)特的大視野光路（Wide Field Optics?）設(shè)計(jì)，最低至2倍的放大倍數(shù)，無需額外的光學(xué)導(dǎo)航攝像頭即可輕松、精確地實(shí)現(xiàn) SEM 導(dǎo)航。
SingleVac? 模式作為標(biāo)準(zhǔn)配置，為觀測(cè)不導(dǎo)電樣品和電子束敏感的樣品提供便利的分析利器。
采用 3D 電子束技術(shù)（3D Beam Technology ）可獲得實(shí)時(shí)立體成像。
在樣品臺(tái)及裝置的樣品運(yùn)動(dòng)過程中，Essence? 3D防碰撞模塊可以直觀的顯示安裝腔室內(nèi)的探測(cè)器及樣品臺(tái)的位置信息，提供終極的安全性的保護(hù)。
真空緩沖節(jié)能單元可顯著縮短機(jī)械泵的運(yùn)行時(shí)間，提供環(huán)保、高經(jīng)濟(jì)效益的電子顯微鏡。
模塊化分析平臺(tái)，可選配集成最多種類的探測(cè)器和附件（如陰極熒光探測(cè)器，水冷背散射電子探測(cè)器或拉曼光譜儀等）。